La verificación física de un chip es un paso esencial para confiar en su seguridad, ya que un diseñador podría ocultar bloques de RAM adicionales, invisibles para el software y para el arranque seguro. Andrew "bunnie" Huang, en su blog bunniestudios, explica cómo la inspección por infrarrojos permite descartar la presencia de macros SRAM ocultas en el procesador RISC-V de código abierto Baochip-1x, fabricado en un proceso de 22 nm.
El artículo parte del concurso "Name that Ware" de abril de 2026, en el que se mostraron micrografías de distintos chips para que los participantes identificaran las macros. Huang aprovecha la entrega para desglosar la estructura interna de tres macros de memoria del Baochip-1x. La primera, rdram1kx32, es una memoria dual-puerto de 1024x32 bits con decodificadores de dirección en el centro y amplificadores de columna en el borde inferior; sus 32 bits se reparten en dos mitades de 16 separadas por una "columna vertebral" central. La segunda, bioram1kx32, es una versión single-puerto también de 1024x32, usada en el módulo BIO, donde la ausencia de repetidores reduce el área a costa de un menor rendimiento. La tercera, aoram1kx36, está optimizada para densidad: sus decodificadores y drivers de columna se ubican principalmente en el centro, con una profundidad estimada de 512 filas organizadas como 128x4.
Huang detalla cómo leer cada macro: las zonas oscuras indican áreas con transistores (las celdas de memoria), mientras que las claras son regiones dominadas por metal. Características como la columna central, los amplificadores en el borde o las bandas de repetidores permiten distinguir memorias de uno o dos puertos, así como diseños optimizados para velocidad o densidad. Aunque las celdas individuales son demasiado pequeñas para resolverse con IR, el tamaño agregado de cada macro es gigantesco comparado con la resolución de un escáner IR doméstico, lo que permite contar bits y compararlos con los declarados en el RTL.
La implicación de seguridad es directa: en un sistema open-RTL como el Baochip-1x, los usuarios pueden comprobar que la cantidad de SRAM presente en el silicio coincide con la del código fuente. Esto cierra la puerta a ataques basados en memorias ocultas controladas por registros tipo "secret knock", imposibles de detectar mediante un escaneo puro de direcciones. Con un simple análisis IR, afirma Huang, se elimina la posibilidad de macros SRAM adicionales en el sistema, reforzando la confianza en procesos como el borrado y hash de toda la memoria durante el arranque seguro.